
SZT-2C四探针测试仪特色介绍
SZT-2C主(zhu)机(ji)(ji)采用世界领(ling)先(xian)(xian)的(de)先(xian)(xian)进电路(lu)设计,所测数据更(geng)(geng)精、更(geng)(geng)快(kuai)、更(geng)(geng)准(一(yi)代为传统式电路(lu),缺点:体积大,速(su)度慢,元器(qi)件繁(fan)多导致影响机(ji)(ji)器(qi)寿命)。
屏尊采(cai)用彩色液晶显示(shi)(一代为只有(you)数码管显示(shi))。
匹配(pei)电(dian)脑接口及(ji)软件(jian),让操作简便明(ming)了化(hua)(可(ke)(ke)直接连接电(dian)脑,电(dian)脑进行自动(dong)运算根据(ju)输入指定厚度(du),自动(dong)比照并修正系(xi)数(shu),使(shi)被测结果更精确,数(shu)据(ju)可(ke)(ke)储(chu)藏或删(shan)除,利于使(shi)用方保存(cun)记录),此为选(xuan)配(pei)件(jian)。
SZT-2C的(de)(de)(de)测(ce)(ce)(ce)试(shi)架(jia)上(shang)的(de)(de)(de)测(ce)(ce)(ce)试(shi)台面(mian)比传统测(ce)(ce)(ce)试(shi)架(jia)的(de)(de)(de)测(ce)(ce)(ce)试(shi)台面(mian)长宽各大100mm,以(yi)满足测(ce)(ce)(ce)试(shi)大片(pian)的(de)(de)(de)需要(若是客(ke)人对测(ce)(ce)(ce)试(shi)机的(de)(de)(de)尺寸有特殊要求,我们也可以(yi)根(gen)据客(ke)人的(de)(de)(de)尺寸进行定做(zuo)),采用自动(dong)传感装(zhuang)置(zhi),接(jie)近被(bei)测(ce)(ce)(ce)物(wu)体时实行自动(dong)减速(su),避免了被(bei)测(ce)(ce)(ce)物(wu)体的(de)(de)(de)损(sun)耗和(he)探头的(de)(de)(de)磨(mo)损(sun)(领(ling)先于(yu)国内市场(chang)上(shang)任何(he)一款同类产品的(de)(de)(de)测(ce)(ce)(ce)试(shi)架(jia),老一代(dai)为(wei)手动(dong)) 还有可以(yi)提高(gao)测(ce)(ce)(ce)量的(de)(de)(de)精(jing)度。
本仪器(qi)(qi)测试(shi)电阻、电阻率(lv)、方(fang)块电阻时(shi),标准系数为机(ji)器(qi)(qi)自带自调,无需(xu)另外手工调整,省去了(le)原仪器(qi)(qi)的诸(zhu)多麻(ma)烦。(这台仪器(qi)(qi)的压力大小分三档可以调整,此功能为选配(pei)件(jian))
本仪器的最(zui)小分(fen)辨(bian)率为0.01mQ
主机手自(zi)一体(ti)功(gong)能(neng),并且测试架(jia)也是手动和自(zi)动都能(neng)一体(ti)完成,无需再配两套(tao)。
测试(shi)探头为(wei)钨针(zhen),市场上多为(wei)高速钢针(zhen)。
每次测量均有(you)内置计算机(ji)自动进行温度补偿(chang)及(ji)电压(ya)电流(liu)矫正。
整机测量标准不确定(ding)度:≤ 2%(国内其它厂(chang)家误差为≤5%
SZT-2C四探针测试仪技术参数

四探针测试仪探头对比

这张照片的针分为两种:乌针和(he)高速(su)钢。
乌针适用(yong)(yong)于(yu)表(biao)遍容(rong)易氧化的材(cai)质,例如最典型的就是硅材(cai)料(liao)(liao),硬(ying)度(du)高(gao)(硅材(cai)料(liao)(liao)必须用(yong)(yong)乌针)。高(gao)速钢(gang)适用(yong)(yong)于(yu)表(biao)面硬(ying)度(du)强的材(cai)料(liao)(liao),柔(rou)韧性好,针不(bu)容(rong)易断。

合金(jin)探头:适(shi)用于表(biao)面涂层的(de)材(cai)料和表(biao)面强硬度差一点的(de)材(cai)质。