STZ—3型半导体导电型号鉴别仪是为了鉴别硅单晶材料的导电类型 “P”和 “N”的测量仪器，是采用温差效应和整流效应两种方法相结合综合性的测量导电型号仪器，测量范围广硅材料电阻率从10-2~104Ω•cm，仪器采用美国16位单片集成电路计算机为核心，利用数字采集滤波技术，并用 “P” “N”数码直接显示。采用了单片机技术可使测量的准确度和稳定性大幅度提高。仪器采用手持式四探然探头，使用简单，操作方便，且寿命长，适合半导体材料厂、器件厂和科研部门需要。
用(yong)作太(tai)阳能(neng)(neng)多(duo)晶材(cai)料(liao)分选时，采用(yong)整流法，对<0.01Ω-cm的材(cai)料(liao)具有声光报(bao)警功能(neng)(neng)，广泛应用(yong)于太(tai)阳能(neng)(neng)电池生产的原材(cai)料(liao)筛选环节，快速(su)高效。

主要技术指标：

1． 测量范围：硅单晶材料电阻率10-2~104Ω•cm
2．  可测量材料：半导体硅棒和硅片，及硅碎颗粒。
可测半导体材料尺寸：Φ15~Φ150 mm以上。
3．  显示方式：P、N 灯显示。
4．  测试探头：手持式 探针间距3 mm         探针Φ1mm 高速钢
5．  电(dian)源：220V 50HZ 20W

如有非标等特殊要求，可来电函提出，可满足！